工業用CT

diondo d1

コンパクト　サブマイクロフォーカスCT装置

diondo d1 は、小型から中型サンプルに最適な高解像度のサブマイクロフォーカスCT装置です。従来のシステムと比較して、d1 は高出力透過 X 線源を搭載により、同じ測定時間で最大 4 倍の分解能を達成でき、同じ分解能で測定時間を 1/4 に大幅に短縮できます。高出力領域での高分解撮影を実現し、新エネルギー電池など厳しい検査要件にも対応します。

  • ▪  高解像度なスキャンを極短時間で取得

    管電圧240kVの高透過力と最大80Wハイパワーで新次元のスピードと画質を実現

  • ▪  最大検出体積と最高精度を実現

    ▪最大検出体積と最高精度を実現 小さいピクセルサイズと大面積の有効検出を組み合わせることにより、高解像度で小サンプルの検出だけでなく、大型サンプルでも時間の無駄がなく1回の撮影プロセスでスキャン完了

  • ▪  高精度花崗岩マニピュレータ

    優れた機械的安定性と熱安定性により、長年の高強度使用後でも最高精度を保証

  • ▪  座標測定技術

    VDI/VDE 2630-1.3に準拠し、信頼性の高い計測結果

  • ▪  スキャンモード

    ヘリカルCTスキャンモードを採用して、より高い柔軟性を提供

    • 工業用途

    高性能・透過型X線源

    従来の CT システムは、反射型X 線源を使用します。厚みや材質の異なるワークを透過するには高出力が必要ですが、高出力は解像度に影響を与える可能性があります。簡単に言えば、出力が高くなるほど、解像度は悪くなります。この現象に対処するには、出力を下げ、それに応じて測定時間を長くする必要があります。しかし、diondo d1は、このような心配は不要です。高出力の透過型X線源を使用することで、従来のCTシステムと比較して同じ測定時間で最大4倍の高解像度を得ることができます。また、同じ解像度で測定時間を4分の1に短縮し，検査作業の効率化を実現しています。小ロット検査だけでなく、さまざまな応用が可能です。
  • ▪ 積層造形
  • ▪ 複合材料
  • ▪ 電子電気

    • アプリケーション

    製品仕様

    透過型X 線源 190-240kV
    フラットパネル検出器 3000 × 3000px， 139μm
    焦点距離 800mm
    検出範囲 Ø300 × H230mm
    最大有効検出範囲 Ø400 × H400mm
    最大搭載ワーク重量 20kg
    装置寸法 W2350 × D1450 × H2035mm
    系统重量 5500kg
    diControlの特長 DR機能、ヘリカルCT、有効角度スキャン、高速スキャン、高速再構成GPU加速、ビームハードニング補正、アーチファクト補正、一括自動検出、自動幾何補正、日常検査、状態検査、VDI/VDE 2630計測モジュール
    マニピュレータ 高精度花崗岩ベース4 / 5 軸マニピュレータ

    装置構成オプション

    高精度花崗岩プラットフォーム

    自動フィルター交換

    XY位置決めステージ

    デュアルX線管の選択

    In-situ負荷解析と4D-CT解析

    ヘリカルCT